鑄鐵
面積法晶粒度
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
Prior程序控制電動載物臺
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
Presi制樣設(shè)備
DP74
即時景深擴展（EFI）
自動聚焦裝置
夾雜物最惡劣視場法
光源以及配件
圖譜對照
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
STREAM軟件特點
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
PCB電鍍分布能力
簡易型BXFM
顆粒分析
DP22
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
研究型連續(xù)變倍SZX系列
焊接
輔助聚焦裝置
DP27
截點法晶粒度
偏光顯微鏡BX53P
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
Linkam顯微鏡熱臺
OLS5100激光共焦顯微鏡
普及型連續(xù)變倍SZ系列
孔隙率
層厚度測量
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
奧林巴斯測量顯微鏡
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